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  • SuperViewW1Chotest白光干涉儀
    SuperViewW1Chotest白光干涉儀

    中圖儀器Chotest白光干涉儀SuperViewW1是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細(xì)表面輪廓測量儀器,具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。

    時(shí)間:2024-05-13型號:SuperViewW1訪問量:980
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  • SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀
    SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀

    SuperViewW1光學(xué)3D白光干涉儀?分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,可為樣品表面測量提供快速,便捷的非接觸式3D表面形貌測量解決方案。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡便,可自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)??梢杂糜跍y試各類表面。比如透明的玻璃表面,加上增透膜,其反射率小于1%;也可以用于測試直至100%反射率的各類高反表面。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1463
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  • SuperViewW1白光測量光學(xué)干涉儀
    SuperViewW1白光測量光學(xué)干涉儀

    SuperViewW1白光測量光學(xué)干涉儀用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中,對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量??梢詼y量可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1127
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  • SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀

    SuperViewW1白光干涉顯微輪廓儀設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;以白光干涉技術(shù)為原理,可對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。能對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1206
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  • SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀
    SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀

    SuperViewW1白光干涉儀粗糙度儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。可對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1329
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  • SuperViewW1白光干涉儀檢測設(shè)備
    SuperViewW1白光干涉儀檢測設(shè)備

    SuperViewW1白光干涉儀檢測設(shè)備以白光干涉技術(shù)為原理,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1365
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  • SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀
    SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀

    SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等.

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1309
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  • SuperViewW1白光干涉測量儀系統(tǒng)
    SuperViewW1白光干涉測量儀系統(tǒng)

    SuperViewW1白光干涉測量儀系統(tǒng)分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。

    時(shí)間:2024-05-12型號:SuperViewW1訪問量:1376
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