簡要描述:?中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀應用用途多樣、設計簡潔,能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度,涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的形貌測量應用。
詳細介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 能源,電氣,綜合 |
中圖儀器SuperViewW1白光干涉儀設計簡潔、用途多樣,能夠測量不同的材質、結構、表面粗糙度和波度,涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的形貌測量應用。
白光干涉儀應用操作步驟:
1. 將樣品放置在夾具上,確保樣品狀態(tài)穩(wěn)定;
2. 將夾具放置在載物臺上;
3. 檢查電機連接和環(huán)境噪聲,確認儀器狀態(tài);
4. 使用操縱桿調節(jié)三軸位置,將樣品移到鏡頭下方并找到樣品表面干涉條紋;
5. 完成掃描設置和命名等操作;
6. 點擊開始測量(進入3D視圖窗口旋轉調整觀察一會);
7. 進入數據處理界面,點擊“去除外形",采用默認參數,點擊應用獲取樣品表面粗糙度輪廓;
8. 進入分析工具模塊,點擊參數分析,直接獲取面粗糙度數據,點擊右側參數標準可更換參數標準,增刪參數類型;
9. 如果想獲取線粗糙度數據,則需提取剖面線;
10. 進入數據處理界面,點擊“提取剖面"圖標,選擇合適方向剖面線進行剖面輪廓提??;
11. 進入分析工具界面,點擊“參數分析"圖標,點擊右側參數標準,勾選所需線粗糙度相關參數,即可獲取線粗糙度Ra數據。
白光干涉儀應用
場景一:超光滑的弧形表面
上圖是一款旋轉拋物面零件,用于微小位移和角度檢測,其表面具有超光滑、高反、凹面弧形特征,針對其凹面弧形的檢測需求,現(xiàn)有的顯微測量儀器中,原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡,均分別因有損測量或分辨率不夠的原因而排除,只有以白光干涉為原理的光學3D表面輪廓儀,能同時滿足無損、超高分辨率、耐高反等條件。
針對完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時滿足的高精度、大掃描范圍的需求,中圖儀器SuperView W1的復合型EPSI重建算法,解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點。在自動拼接模塊下,只需要確定起點和終點,即可自動掃描, 重建其超光滑的表面區(qū)域,不見一絲重疊縫隙。
場景二:粗糙的特征表面
上圖是涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖,整體尺寸在7mm左右,中心的催化劑區(qū)域呈低反射率特點,而圓環(huán)外呈高反射率特點,整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏反映了涂覆的質量。
根據客戶精度要求,可將重建算法切換為高速掃描的FVSI重建算法,并可依據表面粗糙程度,選擇不同步距進行速度調節(jié)。
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