簡(jiǎn)要描述:中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)三維表面形貌儀價(jià)格實(shí)惠,提供二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等功能。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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外形尺寸 | 900x700x604mmmm | 重量 | 90kg |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,能源,電子 | 測(cè)量范圍 | 140x110x100mm |
用途 | 測(cè)量精密工件的微觀形貌 | 臺(tái)階測(cè)量準(zhǔn)確度 | 0.3% |
臺(tái)階測(cè)量重復(fù)性 | 0.08%?1σ | 粗糙度RMS重復(fù)性 | 0.005nm |
通過對(duì)三維形貌的測(cè)量,能較為全面地評(píng)定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,因?yàn)槲⒂^表面形貌直接影響著零件的技術(shù)性能評(píng)價(jià),所以表面三維評(píng)定參數(shù)能更全面衡量零件表面質(zhì)量,因此表面三維微觀形貌的測(cè)量就越來越重要。而在三維微觀測(cè)量領(lǐng)域中,特別是在如納米材料、航空航天、半導(dǎo)體等各類精密工件表面質(zhì)量高要求的領(lǐng)域中,光學(xué)三維表面形貌儀的測(cè)量精度*高。中圖儀器的SuperView W1光學(xué)三維表面形貌儀價(jià)格實(shí)惠,且測(cè)量精度可以達(dá)到微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)的測(cè)量。
產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)指標(biāo)
光學(xué)三維表面形貌儀也叫光學(xué)干涉儀,工作原理是光源發(fā)出的光經(jīng)過擴(kuò)束準(zhǔn)直后經(jīng)分光棱鏡后分成兩束,一束經(jīng)被測(cè)表面反射回來,另外一束光經(jīng)參考鏡反射,兩束反射光最終匯聚并發(fā)生干涉,顯微鏡將被測(cè)表面的形貌特征轉(zhuǎn)化為干涉條紋信號(hào),通過測(cè)量干涉條紋的變化來測(cè)量表面三維形貌。
3D形貌地圖配合色譜圖,非常直觀,但橫向測(cè)試范圍,縱向高度尺度也很關(guān)鍵。在超精密加工中,3D AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))是對(duì)傳統(tǒng)精密加工上的升級(jí),彌補(bǔ)了傳統(tǒng) AOI 由于2D成像原理上的一些缺陷,改進(jìn)設(shè)備性能以滿足各大電子廠對(duì)質(zhì)量和產(chǎn)品能得雙重要求。拋開光學(xué)三維表面形貌儀價(jià)格實(shí)惠不說,基于白光干涉原理而研發(fā)生產(chǎn)的SuperView W1能以非接觸的方式,無(wú)損檢測(cè)精密機(jī)械加工表面,檢測(cè)結(jié)果以3D數(shù)據(jù)地圖的方式顯示,直觀地展示了表面紋理特征。
如一款旋轉(zhuǎn)拋物面零件,用于微小位移和角度檢測(cè),其表面具有超光滑、高反、凹面弧形特征,針對(duì)其凹面弧形的檢測(cè)需求,現(xiàn)有的顯微測(cè)量?jī)x器中,原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡,均分別因有損測(cè)量或分辨率不夠的原因而排除,而以白光干涉為原理的SuperView W1光學(xué)三維表面形貌儀,能同時(shí)滿足無(wú)損、超高分辨率、耐高反等條件。
通過中圖儀器光學(xué)三維表面形貌儀對(duì)工件的三維形貌進(jìn)行測(cè)量,進(jìn)而確認(rèn)加工方法的好壞以及設(shè)計(jì)要求的合理性,最后可以才反過來通過指導(dǎo)加工、優(yōu)化加工工藝,以加工出高質(zhì)量的表面,確保零件使用功能的實(shí)現(xiàn)。
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